在集成电路中设计“与门”（AND gate）时，需要考虑多个因素以确保其性能、可靠性和成本效益。以下是设计过程中需要考虑的一些关键因素：

1. 逻辑功能

· 真值表：确保设计的与门符合逻辑与的真值表，即只有当所有输入都为高电平时，输出才为高电平。

· 逻辑阈值：考虑输入信号的逻辑阈值，确保与门能够正确识别高低电平。

2. 电路拓扑

· 晶体管级设计：选择合适的晶体管类型（如NMOS、PMOS或CMOS）和数量，以及它们的连接方式（如串联、并联）。

· CMOS实现：常用的与门设计是CMOS实现，它结合了NMOS和PMOS晶体管的优点，具有低静态功耗和高噪声容限。

3. 性能参数

· 传播延迟：设计时要考虑与门的传播延迟，即输入信号变化到输出信号变化的时间

· 功耗：优化设计以减少动态功耗和静态功耗。

· 驱动能力：确保与门的输出能够驱动后续的负载。

4. 电源电压

· 工作电压范围：设计与门时要考虑其工作的电源电压范围，确保在规定的电压范围内正常工作。

· 电压波动容忍度：考虑电源电压波动对与门性能的影响。

5. 工艺变量

· 工艺偏差：考虑制造过程中的工艺偏差，如晶体管的阈值电压和尺寸的不一致性。

· 温度影响：设计时要考虑到温度变化对晶体管特性的影响。

这些因素共同决定了与门的性能和成本，设计工程师需要根据具体的应用需求和工艺条件，综合考虑这些因素，以实现最佳的设计方案。